1BM.ru - Первый машиностроительныйВернуться на главную страницу порталаКонтактная информация

Первый Машиностроительный Портал

информационно-поисковая система
Форма для связи
 
Каталоги предприятий
Предприятия машиностроения
Поставщики проката, поковок, отливок
Работы и услуги для машиностроения
Библиотека портала
ГОСТы, ОСТы, ТУ
Марочник металлов и сплавов
Бесплатные программы
Реклама на портале
Отраслевой форум
Тендеры
Маркетинговые исследования
Последние поступления
Всего доступных документов: 64470
Новые карточки НТД: ГОСТ, ОСТ, ТУ
Добавить документ
Ваше положение в каталоге нормативных документов:
Полупроводниковые приборы - Каталог ТУ
Номер:

ГАВЛ.431260.024 ТБ

Название: Микросхема интегральная серии 5507. Таблица норм.
Страниц: 6
Описание ГАВЛ.431260.024 ТБ: Настоящая таблица устанавливает нормы электрических параметров, значения напряжений питания и тестовых напряжений, подаваемых на выводы микросхем, при контроле микросхем 5507БЦ1У-ХХХ АЕЯР.431260.227 ТУ, 5507БЦ2У-ХХХ АЕЯР.431260.228 ТУ, Н5507БЦ5У-ХХХ АЕЯР.431260.230 ТУ и 5507БЦ7У-ХХХ АЕЯР.431260.231 ТУ цехом, ОТК и ВП на пластине и в корпусе.

Нормы электрических параметров приведены для проведения функционального контроля и проверки электрических параметров микросхем на автоматизированной измерительной системе НР82000-D50 или на любой другой измерительной системе, обеспечивающей данные виды контроля с требуемой точностью.

Функциональный контроль микросхем проводится в соответствии с картой заказа данной микросхемы.

Контроль динамических характеристик проводится при наличии требований в карте заказа на закорпусированных микросхемах в нормальных условиях (НУ) по нормам, обеспечивающим соответствие параметров требованиям карты заказа.

Контроль выходного напряжения высокого и низкого уровня при токе нагрузки 30 мкА не проводится. Соответствие данного параметра требованиям ТУ обеспечивается конструкцией кристалла, измерениями ICC, а также измерениями UOH, UOL при токе нагрузки 1,5 мА и 3 мА соответственно.

Тест стрессовых воздействий добавляется только в штатную цеховую программу контроля пластин после контроля контактирования.

ГАВЛ.431260.024 ТБ расположен в разделе: Полупроводниковые приборы - Каталог ТУ. [Открыть]
Файлы документа в наличии:
ГАВЛ.431260.024 ТБ.pdf передан 07.10.2016
Документ ГАВЛ.431260.024 ТБ предоставлен участником портала.
Варианты получения документа ГАВЛ.431260.024 ТБ:
Получите бесплатный доступ к ГАВЛ.431260.024 ТБ. Передайте в библиотеку один отсутствующий в ней документ (ГОСТ, ОСТ или ТУ) и Вам будет открыт доступ к любым двум нормативным документам, имеющимся в библиотеке портала.
Приобретите доступ к 10 нормативным документам.
Стоимость услуги - 3000р.

На неограниченный срок Вы получаете возможность скачать любой уже имеющийся в библиотеке портала документ либо дождаться поступления еще отсутствующего документа. Благодаря системе обмена документами наша библиотека ежедневно пополняется множеством нормативных документов.

Пакетный доступ к 10 документам позволяет сэкономить на стоимости отдельного документа, которая в некоторых случаях может даже превосходить стоимость доступа к 10 документам.

Получите доступ к 30 нормативным документам и другим сервисам портала на тарифе «Стандарт».
Стоимость услуги - 10000р.

Это предложение для организаций, которые заинтересованы не только в получении сотрудниками доступа к нормативной документации, но и в представлении своей продукции и услуг, а так же в продвижении своего сайта в поисковых системах. Тариф «Стандарт» предоставляет комплексный доступ к ресурсам портала, при грамотном и полном использовании которого Вы сможете получить значительный отклик в виде новых клиентов и улучшившейся посещаемости сайта организации.

В качестве бонуса в тариф «Стандарт» включен доступ к марочнику металлов и сплавов сроком на один год.

Приобретите доступ к документу ГАВЛ.431260.024 ТБ
Стоимость услуги - 295,00р.

Обратите внимание на возможность приобрести доступ к 10 документам за 3000р.
или получить документ бесплатно по обмену.

Если Вы обладаете новыми изменениями к документу ГАВЛ.431260.024 ТБ, не указанными в карточке, Вы можете передать их в библиотеку и принять участие в программе обмена документами (получить ответный доступ к двум документам).
ГАВЛ.431260.024 ТБ, Микросхема интегральная серии 5507. Таблица норм., 6, Настоящая таблица устанавливает нормы электрических параметров, значения напряжений питания и тестовых напряжений, подаваемых на выводы микросхем, при контроле микросхем 5507БЦ1У-ХХХ АЕЯР.431260.227 ТУ, 5507БЦ2У-ХХХ АЕЯР.431260.228 ТУ, Н5507БЦ5У-ХХХ АЕЯР.431260.230 ТУ и 5507БЦ7У-ХХХ АЕЯР.431260.231 ТУ цехом, ОТК и ВП на пластине и в корпусе. Нормы электрических параметров приведены для проведения функционального контроля и проверки электрических параметров микросхем на автоматизированной измерительной системе НР82000-D50 или на любой другой измерительной системе, обеспечивающей данные виды контроля с требуемой точностью. Функциональный контроль микросхем проводится в соответствии с картой заказа данной микросхемы. Контроль динамических характеристик проводится при наличии требований в карте заказа на закорпусированных микросхемах в нормальных условиях (НУ) по нормам, обеспечивающим соответствие параметров требованиям карты заказа. Контроль выходного напряжения высокого и низкого уровня при токе нагрузки 30 мкА не проводится. Соответствие данного параметра требованиям ТУ обеспечивается конструкцией кристалла, измерениями ICC, а также измерениями UOH, UOL при токе нагрузки 1,5 мА и 3 мА соответственно. Тест стрессовых воздействий добавляется только в штатную цеховую программу контроля пластин после контроля контактирования., 1061, 1
Авторизоваться в системе:
ЛогинПароль(забыли?)
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись вКонтакте.
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Facebook.
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Mail.ru.
Copyright © 2006-2019, All rights reserved.
Rambler's Top100