Настоящий стандарт распространяется только на фотоэлектрические приборы, обладающие линейной СЧ в соответствии с МЭК 60904-10. Приведенная ниже методика применима только для однопереходных устройств, хотя ее принцип может быть распространен и на многопереходные.

Поскольку чувствительность фотоэлектрических (ФЭ) приборов зависит от длины волны, их эффективность в значительной степени обусловлена спектральным распределением падающего излучения, которое при естественном солнечном свете зависит от многих факторов, таких как местоположение, погода, время года, время дня, ориентация приемной площадки и т.д., а для имитаторов зависит от его типа и характеристик. Если уровень энергетической освещенности (ЭО) измеряется с помощью теплового радиометра (который является спектрально неселективным приемником), или с помощью эталонного солнечного элемента, должно быть известно спектральное распределение ЭО падающего излучения для того, чтобы сделать необходимые поправки, и определить эффективность ФЭ прибора под воздействием стандартного солнечного спектра, определенного в МЭК 60904-3.

Если для измерения ЭО использованы эталонный ФЭ прибор или тепловой приемник, то далее, следуя процедуре, изложенной в данном стандарте, можно рассчитать поправку на спектральное несоответствие, необходимую для получения величины тока короткого замыкания испытуемого ФЭ устройства в условиях воздействия стандартного солнечного излучения, значения спектральной плотности энергетической освещенности (СПЭО) которого приведены в таблице 1 документа МЭК 60904-3, или любого другого стандартного спектра. Если эталонный ФЭ прибор имеет такую же относительную СЧ, что и испытуемый ФЭ прибор, то для излучений разница между реальным спектральным распределением и стандартным спектральным распределением учитывается автоматически, и нет необходимости в последующей коррекции спектральной систематической ошибки. В этом случае местоположение и погодные условия не являются критичными для натурных измерений эффективности. Аналогично, при идентичных распределениях относительной СЧ спектральный класс имитатора не является критичным для лабораторных измерений.

Если известна СПЭО, при которой были измерены характеристики ФЭ прибора, то его ток короткого замыкания при воздействии излучения с любой другой СПЭО может быть рассчитан с использованием относительной СЧ этого ФЭ прибора.